Untersuchung des Einflusses der η-Funktion auf die Ortsauflösung von Si-Streifen-Detektoren unter Verwendung einer automatisierten, örtlich hoch-aufgelösten Infrarot-LASER-Teststation

Abstract

Das PANDA-Experiment wird als Teil der künftigen Beschleunigeranlage FAIR in Darmstadt von wesentlicher Relevanz für die Erforschung der starken Wechselwirkung sein. Bei Impulsen von 1,5 GeV / c bis 15 GeV / c wird es Kollisionen von Antiprotonenstrahlen mit ruhenden Protonentargets vermessen und so die Quantenchromodynamik bei mittleren Energien erforschen. Der Mikro-Vertex-Detektor (MVD) übernimmt als zentraler Subdetektor das hochauflösende Vermessen primärer und sekundärer Teilchenspuren. Die inneren Detektorlagen des MVD sind aus Silizium-Pixelsensoren, die äußeren Lagen aus Silizium-Streifensensoren aufgebaut, deren hohe Ortsauflösung unabdingbar für Spurdetektoren ist. Die vorliegende Arbeit behandelt den Einfluss der alternativen Berechnungsmethode der η-Funktion auf die Ortsauflösung von Silizium-Streifendetektoren. Zu diesem Zweck wurden Si-Streifensensoren mittels eines örtlich hoch-aufgelösten Infrarotlaser-Teststands mit gezielten IR-Laserpulsen beleuchtet. Die anhand der Sensordaten berechneten Ereignispositionen wurden mit denen des hoch-aufgelösten Teststands verglichen, dessen Positionswerte aufgrund der hohen Genauigkeit als Referenzwert genutzt wurden. Dabei konnte gezeigt werden, dass sich mit Hilfe der η-Funktion die Ortsauflösung der Streifendetektoren deutlich verbessern lässt.