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dc.contributor.advisorBrinkmann, Kai-Thomas
dc.contributor.authorKesselkaul, Martin
dc.date.accessioned2022-09-19T12:30:15Z
dc.date.available2022-09-19T12:30:15Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.urihttps://jlupub.ub.uni-giessen.de//handle/jlupub/7713
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.22029/jlupub-7147
dc.description.abstractDas PANDA-Experiment wird als Teil der künftigen Beschleunigeranlage FAIR in Darmstadt von wesentlicher Relevanz für die Erforschung der starken Wechselwirkung sein. Bei Impulsen von 1,5 GeV / c bis 15 GeV / c wird es Kollisionen von Antiprotonenstrahlen mit ruhenden Protonentargets vermessen und so die Quantenchromodynamik bei mittleren Energien erforschen. Der Mikro-Vertex-Detektor (MVD) übernimmt als zentraler Subdetektor das hochauflösende Vermessen primärer und sekundärer Teilchenspuren. Die inneren Detektorlagen des MVD sind aus Silizium-Pixelsensoren, die äußeren Lagen aus Silizium-Streifensensoren aufgebaut, deren hohe Ortsauflösung unabdingbar für Spurdetektoren ist. Die vorliegende Arbeit behandelt den Einfluss der alternativen Berechnungsmethode der η-Funktion auf die Ortsauflösung von Silizium-Streifendetektoren. Zu diesem Zweck wurden Si-Streifensensoren mittels eines örtlich hoch-aufgelösten Infrarotlaser-Teststands mit gezielten IR-Laserpulsen beleuchtet. Die anhand der Sensordaten berechneten Ereignispositionen wurden mit denen des hoch-aufgelösten Teststands verglichen, dessen Positionswerte aufgrund der hohen Genauigkeit als Referenzwert genutzt wurden. Dabei konnte gezeigt werden, dass sich mit Hilfe der η-Funktion die Ortsauflösung der Streifendetektoren deutlich verbessern lässt.de_DE
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF); ROR-ID:04pz7b180de_DE
dc.language.isodede_DE
dc.rightsIn Copyright*
dc.rights.urihttp://rightsstatements.org/page/InC/1.0/*
dc.subjectη-Funktionde_DE
dc.subjectInfrarot-LASER-Teststationde_DE
dc.subjectOrtsauflösungde_DE
dc.subjectSi-Streifen-Detektorende_DE
dc.subjectLadungsteilungde_DE
dc.subjectη-Verteilungde_DE
dc.subject.ddcddc:530de_DE
dc.titleUntersuchung des Einflusses der η-Funktion auf die Ortsauflösung von Si-Streifen-Detektoren unter Verwendung einer automatisierten, örtlich hoch-aufgelösten Infrarot-LASER-Teststationde_DE
dc.typedoctoralThesisde_DE
dcterms.dateAccepted2022-06-28
local.affiliationFB 07 - Mathematik und Informatik, Physik, Geographiede_DE
local.projectPANDAde_DE
thesis.levelthesis.doctoralde_DE


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