Greßbach, SteffenSteffenGreßbach2023-03-162021-06-102023-03-162019978-3-8359-6929-2http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:26-opus-158626https://jlupub.ub.uni-giessen.de/handle/jlupub/15521http://dx.doi.org/10.22029/jlupub-14903Hintergrund: Mehrteilige Implantate sind heute der Goldstandard in der Implantologie. Bei diesem Implantattyp ergibt sich jedoch immer das Problem, dass es technisch nicht realisierbar ist, die Verbindung zwischen Implantat und Abutment absolut spaltfrei zu gestalten. Es entsteht immer ein kleiner Spalt, der zudem mit den konstruktionsbedingten Hohlräumen des Implantates in Verbindung steht. Studien weisen für den beschriebenen Mikrospalt eine Durchschnittsbreite in einer Größenordnung von 0,1 bis 49 Mikrometer aus. Damit finden anaerobe parodontopathogene Bakterien optimale Bedingungen vor, um diesen Zwischenraum zu besiedeln. Daher wäre eine gezielte Abdichtung der konnektiven Elemente wünschenswert.Intention: Die vorliegende In-vivo-Studie untersucht neben der qualitativen insbesondere auch die quantitative Besiedelung mit parodontalpathogenen Keimen und Sprosspilzen des Implantatlumens.Material und Methode: Im Split-Mouth-Studiendesign wird beim Ankylos-C/XImplantatsystem (n = 80 Implantate) ein Dichtmittel auf Silikonbasis (Kiero Seal) appliziert und mit einer Kontrolle ohne Dichtungsmittel verglichen.Ergebnisse: Die qualitative Besiedelung von Implantatlumina durch den Mikrospalt zwischen Implantat und Abutment lässt sich durch die Applikation des Silikongels Kiero Seal als Dichtungsmittel reduzieren. Für die quantitative Dimension konnte dieser Nachweis nicht erbracht werden.de-DEIn Copyrightddc:610