In situ Charakterisierung von Präzisionsoptiken mittels Deflektometrie und adaptiver Bildverarbeitung

dc.contributor.authorSchiffner, Sebastian Frederik
dc.date.accessioned2023-02-09T15:33:10Z
dc.date.available2012-07-27T06:41:57Z
dc.date.available2023-02-09T15:33:10Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractDie fortschreitende branchenübergreifende Miniaturisierung heutiger Fertigungsprozesse erfordert immer bessere Präzisionsoptiken. Um diesen Bedürfnissen gerecht zu werden, wurde eine Maschine entwickelt, die Toleranzen kleiner als ein Mikrometer beim Zentrierprozess von Optiken erreichen kann. Mit der ursprünglichen Technik konnten diese Toleranzen jedoch für viele Linsentypen nicht erreicht werden. Dieses Problem konnte mit Hilfe der Deflektometrie und einer adaptiven Bildverarbeitung gelöst werden. Während dieser Arbeit entstand ein Programm, das den Fertigungsprozess im Industriealltag der Maschine schneller, exakter und für ein breiteres Spektrum an Linsen anwendbar machte. Im Mittel werden Toleranzen von 0,6 µm innerhalb von 44 s erreicht bei über 85% der Linsen eines namhaften Mikroskopherstellers.de_DE
dc.description.abstractThe cross-industrial miniaturization of today´s manufacturing processes requires continuous improvements in precision optics. In order to fulfill these demands, a machine was developed, which is able to achieve manufacturing tolerances smaller than a micron. The original alignment technique failed to achieve such tolerances for many lens types.This problem could be solved with deflectometry and adaptive, digital image processing. Within the scope of this work, a software was developed, which made the manufacturing process on the machine faster, more accurate and usable for a broader spectrum of lenses. On the average tolerances of 0,6 µm were reached within 44 s with over 85% of the lenses of a well-known microscope manufacturer.en
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:26-opus-88993
dc.identifier.urihttps://jlupub.ub.uni-giessen.de//handle/jlupub/10276
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.22029/jlupub-9660
dc.language.isode_DEde_DE
dc.rightsIn Copyright*
dc.rights.urihttp://rightsstatements.org/page/InC/1.0/*
dc.subjectOptikde_DE
dc.subjectDeflektometriede_DE
dc.subjectMesstechnikde_DE
dc.subjectBilderkennungde_DE
dc.subjectPräzisionsmaschinende_DE
dc.subjectopticen
dc.subjectdeflectometryen
dc.subjectmeasurementen
dc.subjectimagerecognitionen
dc.subjectprecisionen
dc.subject.ddcddc:530de_DE
dc.titleIn situ Charakterisierung von Präzisionsoptiken mittels Deflektometrie und adaptiver Bildverarbeitungde_DE
dc.title.alternativeIn situ characterisation of precision optics with deflectometry and adaptive image processingen
dc.typedoctoralThesisde_DE
dcterms.dateAccepted2012-06-15
local.affiliationFB 07 - Mathematik und Informatik, Physik, Geographiede_DE
local.opus.fachgebietPhysikde_DE
local.opus.id8899
local.opus.instituteI. Physikalisches Institutde_DE
thesis.levelthesis.doctoralde_DE

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