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dc.contributor.authorKriegseis, Wilhelm
dc.contributor.authorScharmann, Arthur
dc.contributor.authorSenger, Winfried
dc.date.accessioned2022-08-10T13:10:19Z
dc.date.available2008-02-18T08:27:03Z
dc.date.available2022-08-10T13:10:19Z
dc.date.issued1990
dc.identifier.issn0176-3008
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:26-opus-54603
dc.identifier.urihttps://jlupub.ub.uni-giessen.de//handle/jlupub/4938
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.22029/jlupub-4389
dc.language.isodede_DE
dc.rightsIn Copyright*
dc.rights.urihttp://rightsstatements.org/page/InC/1.0/*
dc.subject.ddcddc:530de_DE
dc.titleStrahlensodimetrie mit Exoelektronen : Eine Methode für den Nachweis niederenergetischer Strahlungde_DE
dc.typearticlede_DE
dcterms.isPartOf2143837-7de_DE
local.affiliationFB 07 - Mathematik und Informatik, Physik, Geographiede_DE
local.source.spage7
local.source.epage10
local.source.journaltitleSpiegel der Forschung
local.source.volume7
local.source.number1
local.opus.id5460
local.opus.instituteI. Physikalisches Institutde_DE
local.opus.fachgebietPhysikde_DE


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