Neue Möglichkeiten der Elektronenmikroskopie : Im Bereich atomarer Größenordnungen

dc.contributor.authorGroh, Hans
dc.contributor.authorGruehn, Reginald
dc.date.accessioned2022-08-10T13:08:07Z
dc.date.available2008-04-04T06:01:33Z
dc.date.available2022-08-10T13:08:07Z
dc.date.issued1984
dc.identifier.issn0176-3008
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:26-opus-56455
dc.identifier.urihttps://jlupub.ub.uni-giessen.de//handle/jlupub/4797
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.22029/jlupub-4248
dc.language.isodede_DE
dc.rightsIn Copyright*
dc.rights.urihttp://rightsstatements.org/page/InC/1.0/*
dc.subject.ddcddc:530de_DE
dc.titleNeue Möglichkeiten der Elektronenmikroskopie : Im Bereich atomarer Größenordnungende_DE
dc.typearticlede_DE
dcterms.isPartOf2143837-7de_DE
local.affiliationFB 07 - Mathematik und Informatik, Physik, Geographiede_DE
local.opus.fachgebietPhysikde_DE
local.opus.id5645
local.source.epage74
local.source.journaltitleSpiegel der Forschung
local.source.number2
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