Neue Möglichkeiten der Elektronenmikroskopie : Im Bereich atomarer Größenordnungen
dc.contributor.author | Groh, Hans | |
dc.contributor.author | Gruehn, Reginald | |
dc.date.accessioned | 2022-08-10T13:08:07Z | |
dc.date.available | 2008-04-04T06:01:33Z | |
dc.date.available | 2022-08-10T13:08:07Z | |
dc.date.issued | 1984 | |
dc.identifier.issn | 0176-3008 | |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:26-opus-56455 | |
dc.identifier.uri | https://jlupub.ub.uni-giessen.de//handle/jlupub/4797 | |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.22029/jlupub-4248 | |
dc.language.iso | de | de_DE |
dc.rights | In Copyright | * |
dc.rights.uri | http://rightsstatements.org/page/InC/1.0/ | * |
dc.subject.ddc | ddc:530 | de_DE |
dc.title | Neue Möglichkeiten der Elektronenmikroskopie : Im Bereich atomarer Größenordnungen | de_DE |
dc.type | article | de_DE |
dcterms.isPartOf | 2143837-7 | de_DE |
local.affiliation | FB 07 - Mathematik und Informatik, Physik, Geographie | de_DE |
local.opus.fachgebiet | Physik | de_DE |
local.opus.id | 5645 | |
local.source.epage | 74 | |
local.source.journaltitle | Spiegel der Forschung | |
local.source.number | 2 | |
local.source.spage | 71 | |
local.source.volume | 2 |
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