Im Rahmen dieser Arbeit wird die Reaktion von drei verschiedenen halbleitenden Kupferoxiden (CuO, Cu4O3 und Cu2O) mit gasförmigen Schwefelwasserstoff (H2S) zu metallisch leitendem Covellin (CuS) untersucht. Dazu sind Proben mittels thermischer Oxidation von Kupfer-Dünnschichten, Sputterdeposition, Elektrospinning und Imprägnierung von Silica-Nanofasern hergestellt worden. Während des Angebotes von gasförmigen H2S bei 160°C bis 180°C Probentemperatur weist der elektrische Leitwert in Abhängigkeit von der Zeit Bereiche mit unterschiedlicher Kinetik auf. Diese sind jeweils durch chemische Reaktivität, Perkolation und Diffusion dominiert. Die Bereiche können je nach Probe durch Zwischenregionen separiert sein oder sich überlagern. Neben der Messung des elektrischen Leitwertes werden die Proben durch REM-Aufnahmen, EDX-Analysen, Raman Spektroskopie, XPS-Analysen, ToF-SIMS Untersuchungen und Datenanalysen des elektrischen Leitwertverhaltens charakterisiert.Messungen mit unterschiedlichen H2S-Konzentrationen deuten bei den Proben auf ein Dosimeter Verhalten hin. Während die Dünnfilm- und Schicht-Proben eine Eignung als Einweg H2S-Gasdosimeter aufweisen, können die CuO-Nanofasern bei 350°C regeneriert und danach für weitere Messungen wieder verwendet werden. Mit den CuO-/Silica-Nanofasern sind auch quasi-kontinuierliche H2S Messungen möglich.Für das Leitwertverhalten der Kupferoxide bei Angebot von Schwefelwasserstoff wird abschließend ein Modell entwickelt, das die unterschiedlichen Präparationsweisen berücksichtigt.
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